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Notice descriptive – Brève 
Cross section of a transistor, taken with a transmission electron microscope. Enlargement 22,000 times. This view indicated possible reliability problems and led to changes in fabrication methods
Niveau hiérarchique :PièceDate :n.d.Genre de documents :Documents photographiquesTrouvé dans :Archives / Collections et fondsNo d'identification :3242127Contexte de cette notice : -
Notice descriptive – Détails Date(s) :n.d.Lieu :Ottawa, Ont.Lieu de création :Sans lieu, inconnu ou indéterminéÉtendue :1 photograph ; Original was a loaned item
Positif - Papier - Argent - gélatineLangue du document :aucun langageSource :Privé -
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